- 제목
- 신용준 교수 연구팀 차폐 케이블 고장 위치 및 정도 추정 연구 IEEE Transactions on Industrial Electronics에 논문 게재
- 작성일
- 2018.06.28
- 작성자
- 전기전자공학부
- 게시글 내용
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※ 신용준 교수 연구팀이 신경망 기반 차폐 케이블 고장 위치 및 정도 추정 기술을 제어 및 전력분야 세계 최상위 학술지인 “IEEE Transactions on Industrial Electronics”에 발표하였다.
- Impact Factor: 7.168
- Rank: 1/60 (Automation & Control System), 12/262 (Electrical & Electronic)
※ 본 연구는 연세대학교 전기전자공학부 신용준 교수 (교신 저자)와 박사과정 권구영 학생 (제 1 저자)이 주도하고, 박사과정 이춘권 학생이 공동으로 참여하였다.※ Neural network based fault localization technique for shielded cable was accepted by international journal “IEEE Transactions on Industrial Electronics”.- Impact Factor: 7.168
- Rank: 1/60 (Automation & Control System), 12/262 (Electrical & Electronic)
※ Prof. Yong-June Shin (Corresponding Author) and Gu-Young Kwon (First Author) led this research, and Chun-Kwon Lee (Co Author) participated.
- 첨부
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