- 제목
- 채영철 교수 연구팀, 12 inch wafer-scale CMOS X-ray detector 연구, IEEE Journal of Solid-State Circuits 논문 게재
- 작성일
- 2020.09.02
- 작성자
- 전기전자공학부
- 게시글 내용
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채영철 교수 연구팀은 세계에서 가장 큰 면적의 단일 칩으로 구현된 이미지 센서를 기반으로 한 12 inch wafer-scale X-ray detector 개발에 성공함.
이 연구 결과는 집적 회로 분야 세계 최고 권위지인 IEEE Jounal of Solid-State Circuits에 게재 됨.
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