연세대학교 전기전자공학과 학부과정 최인수 학생 (양준성 교수 연구팀) 이 2022년 7월 미국 San Francisco에서 개최된 컴퓨터 설계 자동화 분야 세계 최고 학술 대회인 59th ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)에서 “Bipolar Vector Classifier for Fault-tolerant Deep Neural Networks” 논문이 채택되어 발표하였다.
본 논문은 딥러닝 이미지 분류 알고리즘의 동작 신뢰성을 향상시키기 위한 Classifier Architecture를 제시하며, 기존 대비 97배 이상 안정적으로 동작함을 보여 그 우수성을 증명하였다.