본 발명은 결정패턴 생성 전에도 두 하드웨어가 많은 역할을 수행하도록 하여, 기존의 의사무작위 패턴 생성에 필요한 하드웨어를 줄이면서도, 전혀 테스트 시간이 증가되지 않도록 하는 방법을 제공함을 목적으로 한다. 스캔체인을 이용하여 CUT를 테스트하는 내장형 자체테스트 방법으로서, LFSR을, N비트의 패턴카운터 및 비트카운터의 N비트중 한 비트를 제외한 (N-1)비트중 한 비트만 스캔체인으로 보내도록 구성하는 것을 특징으로 한다. BIST, LFSR, 테스트패턴
