본 발명은 진핵세포에서 전자빔에 의해 DNA 이중사슬 절단(double strand break: DSB)을 유도하는 조건, 전자빔에 의한 진핵세포에 야기된 DNA 이중사슬 절단(double strand break: DSB) 발생을 분석하는 방법, 전자빔에 의한 진핵세포의 세포사멸(cell death)을 촉진 또는 억제하는 물질을 스크리닝 하는 방법, 그리고 전자빔에 의한 진핵세포의 세포사멸(cell death)과 관련된 기전에 관한 것이다. 본 발명은 전자빔에 의한 진핵세포에서 세포사멸 유도하는 분자적 기전을 최초로 제시한다. 본 발명은 전자빔으로 진핵세포에서 DSB를 유도하는 효율적인 조건, DSB를 분석하는 효율적인 방법, 그리고 전자빔을 이용하여 진핵세포의 DSB가 유발되었을 때 이를 복구하거나 세포사멸을 유도하는 기전의 유전자를 스크리닝 할 수 있는 시스템 및 방법을 제공한다. 전자빔, 이중사슬 절단, DSB, 세포사멸