본 실시예들은 접합 공정 후 수리 과정을 위한 여분 셀을 베이스 다이에 배치하여 각 메모리 층마다 원하는 만큼의 스페어 셀을 사용하고, 테스트 이후의 수리 결과를 영구 저장하고, 베이스 다이의 스페어 셀과 메모리 층에 동시에 접근하고 유의미한 데이터를 선별함으로써, 메모리의 전원이 차단되더라도 새로 테스트를 진행할 필요 없고, 여분 메모리에서 판단이 수행된 후에 메모리 층에 접근할 때 낭비되는 시간을 해소하고, 높은 수리율을 확보할 수 있는 적층형 메모리 장치 및 그 수리 방법을 제공한다.
