본 발명은 준 페로브스카이트 관련 물질의 분석 방법 및 장치에 관한 것으로서, 다면체간 왜곡 및 다면체내 왜곡이 결합되는 준 페로브스카이트(pseudo-perovskite) 관련 물질의 물리-화학적 특성을 상기 다면체간 왜곡과 관련된 제 1 파라미터를 입력으로 하는 제 1 함수와 상기 다면체내 왜곡과 관련된 제 2 파라미터를 입력으로 하는 제 2 함수의 합으로 정의하는 단계; 하나의 금속 원소(M)가 중심에 위치하고 산소(O) 원소들이 6 개의 꼭지점에 위치하는 비왜곡된 팔면체(MO6)를 포함하는 정육면체 단위 셀을 정의하고, 상기 준 페로브스카이트 관련 물질의 물리-화학적 특성과 매핑되는 전자 밴드 구조의 초기 상태를 상기 비왜곡된 팔면체(MO6)의 전자 밴드 구조로 정의하는 원자 스케일 모델을 정의하는 단계; 상기 제 1 파라미터 및 상기 제 2 파라미터 중 적어도 하나를 조절하는 단계; 조절된 상기 제 1 파라미터 및 상기 제 2 파라미터 중 적어도 하나에 따라, 밀도 범함수 이론(density functional theory: DFT) 계산을 통해 제 1 함수 값 및 제 2 함수 값 중 적어도 하나를 계산하는 단계; 및 상기 제 1 함수 값 및 상기 제 2 함수 값 중 적어도 하나를 이용하여, 상기 비왜곡된 팔면체(MO6)의 왜곡 정도를 분석하는 단계를 포함하는 준 페로브스카이트 관련 물질의 분석 방법이 제공될 수 있다.