본 발명은 기지정된 회전 각도 범위에서 회전하는 편광 필터를 포함하는 필터부, 상기 편광 필터가 전면에 배치되어, 상기 편광 필터를 통해 필터링되어 입사되는 편광으로부터 다수의 편광 영상을 획득하고, 상기 다수의 편광 영상에 대해 이산 푸리에 변환하여 획득되는 변환 영상을 구성하는 성분을 이용하여 편광 위상 및 편광 세기를 계산하여 편광 특성 영상을 획득하는 영상부 및 상기 편광 특성 영상을 기지정된 방식으로 분석하여, 상기 편광 특성 영상에 포함된 객체의 에지와 표면 상태를 분석하는 에지 및 표면 분석부를 포함하여, 저비용으로 정확하게 객체의 에지 및 표면 상태를 검사할 수 있는 에지 및 표면 상태 검사 장치 및 방법을 제공한다.