반도체 테스트를 위한 신호 지연 측정 장치 및 그를 이용한 테스트 장치를 개시한다. 본 발명의 실시예에 따른 반도체 테스트를 위한 신호 지연 측정 장치는, 서로 다른 타이밍으로 제1 신호 및 제2 신호를 입력 받고, 시간 지연이 발생한 신호에 대한 제1 측정을 수행하여 제1 측정 결과를 출력하는 제1 측정 회로부; 상기 제1 측정 결과에 근거하여 출력된 제1 출력 신호 및 제2 출력 신호를 입력 받고, 상기 제1 출력 신호 및 상기 제2 출력 신호에 대한 제2 측정을 수행하여 제2 측정 결과를 출력하는 제2 측정 회로부; 및 상기 제1 측정 회로부 및 상기 제2 측정 회로부와 연동하며, 상기 제1 측정 결과를 기반으로 상기 제1 출력 신호 및 상기 제2 출력 신호가 상기 제2 측정 회로부로 전달되도록 제어하고, 상기 제2 측정 결과를 기반으로 지연 측정값을 산출하는 제어부를 포함할 수 있다.