필터를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 그를 위한 장치를 개시한다. 본 발명의 실시예에 따른 스캔 체인 고장 진단 방법은, 칩과 연결된 스캔 체인으로부터 고장 스캔 셀에 대한 실패 로그정보를 획득하는 정보 획득단계; 적어도 하나의 필터를 이용하여 상기 실패 로그정보를 적어도 하나의 고장 특징벡터로 변환하는 벡터 처리단계; 및 상기 적어도 하나의 고장 특징벡터를 기반으로 상기 스캔 체인에서 고장 스캔 셀의 위치를 추정하는 진단 단계를 포함할 수 있다.
