본 발명은 메모리 셀 어레이에 대한 테스트 결과로 인가되는 불량 메모리 셀의 위치 정보로부터, 메모리 셀 어레이의 동일한 행 및 열에 다른 불량 메모리 셀이 존재하지 않는 싱글 불량 메모리 셀에 대한 정보와 다수의 불량 메모리 셀이 존재하는 행에 대한 로우 희소 불량 정보와 다수의 불량 메모리 셀이 존재하는 열에 대한 칼럼 희소 불량 정보 및 로우 희소 불량 정보와 칼럼 희소 불량 정보에 중첩되어 포함되는 교차 메모리 셀 정보를 획득하여 저장하는 불량 셀 분석부 및 로우 리던던시와 칼럼 리던던시 개수의 합인 리던던시 개수와 싱글 불량 메모리 셀의 개수 사이의 차가 칼럼 희소 불량 정보 개수와 칼럼 희소 불량 정보 개수의 합인 희소 불량 라인 개수 이상이면, 반도체 메모리가 수리 가능한 메모리인 것으로 판별하는 수리 가능 판별부를 포함하여, 메모리 셀 테스트 이후 수리 불가능 메모리들을 기지정된 간단한 계산을 통해 빠르게 선별하여 수리 대상에서 제외되도록 함으로써, 수리 불가능 메모리에 대한 분석 시간과 수리 시간을 저감시켜 전체 비용에 직결되는 총 수리 시간을 크게 줄일 수 있는 수리 가능 반도체 메모리 선별 장치 및 방법을 제공할 수 있다.