- 제목
- 주사탐침 현미경용 프로브 및 이를 포함하는 이진 상태 주사탐침 현미경
- 출원인
- 연세대학교 산학협력단
- 공고일
- 2023.03.23
- 출원일
- 2021.03.25
- 공개일
- 2022.10.05
- 게시글 내용
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본 발명은 주사탐침 현미경에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 다수의 전도성 팁이 구비된 프로브를 이용함으로써 대면적 스캐닝이 가능하고, 동시에 전도성 팁과 샘플 표면과의 접촉/비접촉 두가지의 이진(binary) 상태만을 파악하여 간단하면서도 높은 해상도로 샘플의 표면 이미지를 생성할 수 있는 주사탐침 현미경에 관한 것이다.
- 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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