본 발명은 SoC 반도체소자의 테스트에 필요한 테스트벡터를 효과적으로 압축하는 방법에 관한 것이다. SoC환경에서는 각각의 테스트벡터의 양이 많아지기 때문에 ordering algorithm을 사용하여 인접하는 테스트벡터만 잘 정렬시키게 된다면 '0'의 길이가 보다 더 길어지게 된다. '0000'을 하나의 블록으로 계산하고 '0000'이 있을 때마다 '0 Group'의 카운터를 하나씩 증가시켜서 코드워드를 증가시켜 준다. 해당 코드워드의 경우 메모리 블록을 사용하지 않고 단지 카운터만 사용해 압축해제(decompression)가 가능한 코드워드의 생성이 가능하게 된다. 테스트벡터, 테스트데이터, 압축, 압축해제, 런렝스, SoC, ZDR, run-length