- 제목
- 메모리 수리 방법 및 장치
- 출원인
- 에스케이하이닉스 주식회사, 연세대학교 산학협력단
- 출원일
- 2016.12.26
- 공개일
- 2018.07.04
- 게시글 내용
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본 발명은 메모리 수리 방법 및 장치를 개시한다. 상기 메모리 수리 방법은 다중 블록 메모리의 불량 셀들의 제1 불량 및 제2 불량에 대한 불량 정보를 수집하는 단계; 및 상기 불량 정보를 기반으로, 미리 설정된 광역 예비 메모리, 지역 예비 메모리 및 공유 예비 메모리 중 적어도 하나를 이용하여 상기 다중 블록 메모리의 불량 셀들을 수리하는 단계;를 포함한다.
- 첨부
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- 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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