모바일 메뉴 닫기
 
전체메뉴
닫기
 

산학협력단

보유 특허 검색

제목
공정 모니터링 방법 및 장치
출원인
연세대학교 산학협력단, 동국대학교 산학협력단
출원일
2022.01.28
공개일
2023.08.07
게시글 내용
 본 발명은 박막 내 여기된 캐리어를 형성할 수 있는 레이저광을 입사하는 단계; 박막 내 여기된 캐리어가 재결합하는 동안 박막에 전자기파를 조사하는 단계; 박막 내 여기된 캐리어와 반응하는 전자기파의 특성 정보를 측정하는 단계; 및 측정된 전자기파의 특성 정보를 이용한 결과를 기준 데이타와 비교하여 박막의 정상 여부를 판별하는 단계;를 포함하는, 공정 모니터링 방법을 제공한다. 

공정 모니터링 방법 및 장치 대표 이미지

첨부
공개전문PDF
  • 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
  • 키워드(검색어)별, 발명자별 특허(기술), 공개특허 한정 검색 가능
  • 연구분야별 비공개 특허(기술)은 지식재산권 담당자 별도 문의
  • 지식재산권 담당자
  • 관련 문의처
    보유특허 검색 페이지 및 담당자 정보 안내
    특허 출원인 (권리자) 전담부서 연락처
    연세대학교 산학협력단 본교 산학협력단 지식재산팀 지식재산팀 양지혜 팀장
    (02-2123-5138 / jh.yan@yonsei.ac.kr)
    연세대학교 원주산학협력단 원주산학협력단 기술경영팀 기술경영팀 오정환 팀장
    (033-760-5251 ~ 5252 / WJDGHKSA@yonsei.ac.kr)